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武漢科思特絲束電電位電流掃描儀CST520陣列電電位電流掃描儀采用1010陣列(絲束)電來(lái)模擬整塊金屬試樣表面,通過(guò)自動(dòng)掃描WBE表面的電位/電流分布,可得到涂層或生物膜下的電電位及偶接電流分布,評(píng)估金屬材料的局部腐蝕行為。
武漢科思特電偶腐蝕/電化學(xué)噪聲監(jiān)測(cè)儀CST500電偶腐蝕/電化學(xué)噪聲測(cè)試儀全部由高品質(zhì)CMOS和BiFET®集成電路組成,用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電偶腐蝕或者電化學(xué)噪聲信號(hào)。
武漢科思特犧牲陽(yáng)電化學(xué)性能試驗(yàn)儀GB/T4948-1985 鋁-鋅-銦系合金犧牲陽(yáng)恒電流電化學(xué)性能測(cè)試方法 GB/T4950-1985鋅-鋁-鎘合金犧牲陽(yáng)電化學(xué)性能測(cè)試方法(恒電流法) GB/T 17848-1999 犧牲陽(yáng)電化學(xué)性能試驗(yàn)方法
武漢科思特點(diǎn)蝕電位測(cè)試儀 適用各類(lèi)國(guó)際、國(guó)家、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的點(diǎn)蝕電位測(cè)量。 中國(guó)GB 4334.9-84不銹鋼 點(diǎn)蝕電位測(cè)量方法 ASTM G61-1986(2014) 實(shí)施鐵,鎳或鈷基合金的局部腐蝕敏感性的循環(huán)動(dòng)電勢(shì)化測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法